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RTTLIT E20
该设备采用先进的 -80℃制冷型 InGaAs 探测器和高分辨率显微物镜，具备超高的检测灵敏度， 能够检测到器件在微弱漏电流信号下产生的极微弱的微光信号，通过超高灵敏度成像，该设备能够快速定位和分析漏电缺陷。帮助工程师优化生产工艺，提高产品可靠性，为半导体器件的质量控制和失效分析提供安全可靠的解决方案。
该设备采用先进的 -80℃制冷型 InGaAs 探测器和高分辨率显微物镜，具备超高的检测灵敏度， 能够检测到器件在微弱漏电流信号下产生的极微弱的微光信号，通过超高灵敏度成像，该设备能够快速定位和分析漏电缺陷。帮助工程师优化生产工艺，提高产品可靠性，为半导体器件的质量控制和失效分析提供安全可靠的解决方案。