← 返回产品中心RTTLIT Thermal Emission Microscopy System

RTTLIT P20 热红外显微镜

中波制冷锁相热红外

RTTLIT P20 采用 100 Hz 高频深制冷型超高灵敏度显微热红外成像探测器,测温灵敏度可达0.1mK,显微分辨率低至2μm;RTTLIT P20具备显著的检测灵敏度和测试能量,重点应用于半导体器件、晶圆、集成电路、IGBT、功率模块、第三代半导体、LED 、microLED 等对测温灵敏度和显微分辨率要求更高的失效分析场景,是电子集成电路、半导体器件失效分析及缺陷定位领域的关键工具和重要手段。

热红外显微镜RTTLIT P20 热红外显微镜设备
PCB板案例图
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PCB板

BGA封装样品案例图
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BGA封装样品

IGBT案例图
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IGBT