致晟光电 CSEAC 2025 完美收官 |Thermal EMMI 实力获赞，与 “芯” 同行向未来

9 月 4 日至 6 日，第十三届半导体设备与核心部件及材料展在无锡太湖国际博览中心盛大启幕。此次大会吸引了来自 22 个国家和地区的 1130 多家半导体设备、材料及部件厂商参展，共同探讨 半导体产业发展趋势。

作为中国半导体检测与失效分析技术 研发领域的代表企业，致晟光电受邀参展，在全球行业同仁面前展现了 本土企业在失效分析、红外显微镜检测技术、半导体缺陷检测系统 等方面的技术实力与发展活力。

致晟光电 参展CSEAC 2025，活动剪影

在展会期间，致晟光电积极对接 上游半导体材料供应商 与 下游应用企业，围绕 “检测技术与产业需求的精准匹配” 展开深度交流。通过分享 芯片失效分析案例、功率器件失效分析方法 等内容，进一步凸显了公司在 半导体失效分析与可靠性测试 领域的优势。

随着 半导体产业高度集成化、制程工艺持续突破，芯片失效分析 已成为贯穿产业链从研发设计到量产交付的 关键环节。

• 对上游厂商来说，失效分析有助于发现 芯片封装失效、材料缺陷；

• 对下游应用企业而言，及时的 电子产品失效分析 能保障 终端设备稳定运行。

写在最后，致晟光电自主研发的 实时瞬态锁相红外热分析系统（RTTLIT），突破传统检测局限，能精准捕捉芯片、PCB 等 半导体器件失效 中的 微短路、隐性断裂 等“隐形缺陷”。

• 一方面，它帮助企业快速完成 芯片热点分析、失效根因定位，有效规避产品故障风险；

• 另一方面，它还能为 工艺优化与良率提升 提供精准数据支撑。

致晟光电将持续深耕 半导体检测与失效分析技术，为国产半导体设备实现 “从能用到好用” 的品质跨越，筑牢产业链安全与发展后盾。