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一篇文章带你看懂！ 为什么IV曲线是IC失效分析的第一步？
芯片从设计到进入市场，需要经历层层测试与验证。当芯片在使用过程中出现异常时，如何快速、有效地锁定问题来源，就成为失效分析FA的核心任务。在过往i...
媒体聚焦
Thermal EMMI下芯片失效分析案例：IGBT 模组在 55V 就暴露的问题！
在半导体器件检测中，芯片失效分析一直是工程师关注的重点。尤其是 IGBT失效分析，因为它直接关系到功率器件的寿命与可靠性。本文分享一个在热红外显...
致晟光电 CSEAC 2025 完美收官 |Thermal EMMI 实力获赞，与 “芯” 同行向未来
9 月 4 日至 6 日，第十三届半导体设备与核心部件及材料展在无锡太湖国际博览中心盛大启幕。此次大会吸引了来自 22 个国家和地区的 1130...
喜讯｜致晟光电斩获全球功率半导体峰会重磅奖项 ，彰显国产检测设备领军实力！
5月15日至16日，以“车启芯时代，引领芯未来”为主题的2025全球车规级功率半导体峰会在杭州成功举办。致晟光电作为国产高端电子失效分析领先品牌...
CIAS会议圆满结束｜致晟光电邀您探索Thermal & EMMI赋能功率模块失效分析
近日，为期两天的CIAS2025动力·能源与半导体大会在苏州举行。在24日上午的大会论坛上，致晟光电总经理王国平作了题...
展会回顾｜致晟光电携自研技术亮相2025慕尼黑上海电子生产设备展
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